Carrier Lifetime

释义 Definition

载流子寿命：在半导体中，电子或空穴等载流子从被产生出来（如受光照、注入或热激发）到复合而消失之前的平均存活时间。常用于描述材料质量、缺陷水平及器件（如太阳能电池、光电探测器、LED、晶体管）的性能。（在不同语境下也可特指“少数载流子寿命”。）

发音 Pronunciation (IPA)

/ˈkæriər ˈlaɪfˌtaɪm/

例句 Examples

The carrier lifetime in this silicon wafer is about 10 microseconds.
这片硅晶圆中的载流子寿命大约是 10 微秒。

Improving carrier lifetime by reducing defects can significantly increase the efficiency of a solar cell, because fewer carriers recombine before being collected.
通过减少缺陷来提高载流子寿命能显著提升太阳能电池效率，因为更少的载流子会在被收集前发生复合。

词源 Etymology

carrier 原意为“搬运者、承载者”，在物理与电子学中引申为“承载电荷并参与导电的粒子”（如电子、空穴）；lifetime 意为“寿命、存活时间”。组合后，“carrier lifetime”字面即“载流子的寿命”，在半导体物理中专指载流子在复合前的平均存活时间。

相关词 Related Words

• Auger Recombination
• Carrier Concentration
• Diffusion Length
• Minority Carrier
• Mobility
• Photoconductivity
• Radiative Recombination
• Recombination
• Shockley-Read-Hall Recombination

文学与著作中的用例 Literary Works

• Physics of Semiconductor Devices（S. M. Sze, Kwok K. Ng）——讨论载流子复合机制与寿命对器件特性的影响。
• Semiconductor Physics and Devices（Donald A. Neamen）——在少数载流子、复合与扩散章节中频繁使用该术语。
• Solid State Electronic Devices（Ben G. Streetman, Sanjay Banerjee）——用于分析二极管、BJT 等器件中的载流子行为与时间尺度。