X射线光电子能谱（简称 XPS）：一种表面分析技术，用X射线照射材料，使其表面原子发射光电子；通过测量光电子的动能/结合能来确定表面元素组成、化学价态与化学环境。通常对材料表面几纳米深度最敏感。
/ˈɛks reɪ ˌfoʊtoʊɪˈlɛktrən spɛkˈtrɑskəpi/
X-ray photoelectron spectroscopy can identify the elements on a material’s surface.
X射线光电子能谱可以识别材料表面的元素。
Using X-ray photoelectron spectroscopy, the team confirmed that the catalyst surface contained oxidized nickel species after cycling.
研究团队使用X射线光电子能谱证实，该催化剂表面在循环后含有氧化态的镍物种。
该术语由三部分构成：X-ray（X射线） + photoelectron（光电子，指被光子激发而逸出的电子） + spectroscopy（光谱学/谱学，指对能量分布的测量与分析）。XPS作为现代表面化学分析的重要方法在20世纪中后期发展成熟，与瑞典科学家Kai Siegbahn推广的电子能谱方法（早期常称 ESCA）关系密切。
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