透射电子显微镜(TEM):一种利用高能电子束穿透超薄样品成像的显微技术,可观察到细胞超微结构、病毒、纳米材料晶格与缺陷等极微小内部结构。常与“扫描电子显微镜(SEM)”相对:TEM侧重“透过样品看内部”。
/trænzˈmɪʃən ɪˈlɛktrɑn maɪˈkrɑskəpi/
We used transmission electron microscopy to see the virus.
我们用透射电子显微镜来观察病毒。
Transmission electron microscopy revealed defects in the crystal lattice after heat treatment, helping explain the change in strength.
透射电子显微镜显示热处理后晶格中的缺陷,从而帮助解释强度变化的原因。
该术语由三部分构成:transmission(“透射、穿透”)强调电子束要穿过样品;electron(“电子”)指使用电子束而非可见光;microscopy(“显微术/显微镜学”)指通过显微成像进行观察与分析。合起来就是“用电子透射成像的显微技术”。在实际使用中常缩写为 TEM。