Scanning Electron Microscopy

定义 Definition

扫描电子显微镜技术（SEM）：一种利用聚焦电子束在样品表面逐点扫描，并收集产生的信号（如二次电子、背散射电子、特征X射线等）来形成高分辨率表面形貌图像、并可进行成分分析的显微成像方法。常用于材料科学、生物学、地质学与工程检测等领域。（也常简称 SEM。）

发音 Pronunciation (IPA)

/ˈskænɪŋ ɪˈlɛktrɒn maɪˈkrɒskəpi/

例句 Examples

Scanning electron microscopy revealed tiny cracks on the metal surface.
扫描电子显微镜观察显示金属表面存在微小裂纹。

Using scanning electron microscopy, the researchers compared how different coatings changed the surface texture and linked those changes to corrosion resistance.
研究人员使用扫描电子显微镜比较不同涂层如何改变表面纹理，并将这些变化与耐腐蚀性能联系起来。

词源 Etymology

该短语由三部分构成：scanning（扫描）指电子束以栅格方式逐点扫过样品；electron（电子）指成像“探针”是电子束而非可见光；microscopy（显微术）来自 *micro-*（“小”）+ -scopy（“观察/观看”），整体字面意思即“通过扫描电子束进行的显微观察”。这一术语随着20世纪电子光学与真空技术的发展而普及，用于区别于“透射电子显微镜（TEM）”等相关技术。

相关词 Related Words

• Electron
• Microscopy
• Scanning
• Electron Microscope
• Transmission Electron Microscopy
• Secondary Electron
• Backscattered Electron
• X-ray Microanalysis
• Resolution
• Magnification

文献与作品 Literary / Notable Works

• Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis（Goldstein 等）：SEM 原理、成像对比与微区分析的经典教材/参考书。
• Principles and Techniques of Scanning Electron Microscopy（M. A. Hayat 编）：SEM 技术与应用的代表性学术著作。
• Springer Handbook of Microscopy（多作者）：显微学手册类著作中常系统介绍 SEM 作为重要成像方法之一。