TOF-SIMS

定义 Definition

TOF-SIMS：飞行时间二次离子质谱法。一种表面分析技术，用离子束轰击样品表面使其溅射出二次离子，再用飞行时间（TOF）测定离子质量，从而获得表面（常到纳米级深度）元素与分子信息，并可进行化学成像。

发音 Pronunciation (IPA)

/ˌtiː.oʊˈɛf ˈsɪmz/

例句 Examples

TOF-SIMS can detect trace contaminants on a surface.
TOF-SIMS 可以检测表面上的微量污染物。

Using TOF-SIMS imaging, the researchers mapped the spatial distribution of additives across the polymer film and linked it to changes in adhesion.
研究人员利用 TOF-SIMS 成像绘制了聚合物薄膜中添加剂的空间分布，并将其与黏附性变化联系起来。

词源 Etymology

TOF-SIMS 是缩略语，来自 Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry：

• TOF（Time-of-Flight） 指“飞行时间”质量分析方式；
• SIMS（Secondary Ion Mass Spectrometry） 指“二次离子质谱”。
  组合后专指“以飞行时间质量分析器为核心的 SIMS 技术”。

相关词 Related Words

• Mass Spectrometry
• SIMS
• Time-of-Flight
• Surface Analysis
• Ion Beam
• Sputtering
• Chemical Imaging
• Depth Profiling

文学与作品 Literary Works

• ToF-SIMS: Surface Analysis by Mass Spectrometry（涵盖 TOF-SIMS 原理、谱图解释与应用案例）
• Surface Analysis: The Principal Techniques（表面分析经典教材，包含 SIMS/TOF-SIMS 章节）
• Handbook of Modern Ion Beam Materials Analysis（离子束材料分析手册，涉及 SIMS 与相关方法）