TEM Mode

释义 Definition（中文）

TEM mode 通常指透射电子显微镜模式（Transmission Electron Microscopy mode）：在电子显微镜中，让电子束穿透薄样品形成成像/衍射信息，用于观察材料的内部结构、晶体缺陷与纳米尺度形貌等。（在不同仪器语境中也可能泛指某种“模式/工作模式”，但最常见是电镜里的 TEM 成像模式。）

发音 Pronunciation（IPA）

/tiː iː ˈɛm moʊd/

例句 Examples

The technician switched the microscope to TEM mode to see the internal structure.
技术员把显微镜切换到 TEM 模式来观察内部结构。

In TEM mode, the contrast can reveal defects in the crystal lattice that are invisible in surface-based imaging.
在 TEM 模式下，图像对比度可以显示晶格中的缺陷，而这些缺陷在基于表面成像的方法中可能看不到。

词源 Etymology（中文）

TEM 是 Transmission Electron Microscopy 的首字母缩写，意为“透射电子显微镜（技术）”；mode 来自拉丁语 modus（方式、方法），经法语进入英语，表示“模式/工作状态”。

相关词 Related Words

• Transmission
• Electron
• Microscopy
• Scanning
• SEM
• Diffraction
• Specimen
• Lattice
• Contrast
• Resolution

文学与著作 Literary & Notable Works

• Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science（David B. Williams, C. Barry Carter）
• Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis（Ludwig Reimer）
• Electron Microscopy: Methods and Protocols（多作者编著，常讨论不同成像 modes，包括 TEM 模式）