Scanning Electron Microscope

定义 Definition

扫描电子显微镜（常缩写为 SEM）：一种用聚焦的电子束在样品表面逐点扫描，并接收信号（如二次电子、背散射电子等）来生成高分辨率表面形貌图像的显微镜。常用于材料、生命科学、地质、半导体等领域的微观观察与分析。（也可泛指相关的“扫描电子显微镜技术/成像”。）

发音 Pronunciation

/ˈskænɪŋ ɪˈlɛktrɑn ˈmaɪkrəˌskoʊp/

例句 Examples

We used a scanning electron microscope to see the surface of the leaf.
我们用扫描电子显微镜观察了叶片的表面。

After coating the sample with gold, the team used a scanning electron microscope to analyze micro-cracks in the alloy at high magnification.
在给样品镀金后，团队使用扫描电子显微镜在高倍条件下分析合金中的微裂纹。

词源 Etymology

该短语由三部分构成：scanning（扫描）+ electron（电子）+ microscope（显微镜）。“扫描”强调成像方式是逐点/逐行扫过样品表面；“电子”说明使用的是电子束而非可见光；“显微镜”则表明其用于微观成像。SEM 作为仪器与方法在 20 世纪中期随电子光学与真空技术发展而成熟，并在材料表征中迅速普及。

相关词 Related Words

• Electron Microscope
• Transmission Electron Microscope
• Microscopy
• Resolution
• Magnification
• Secondary Electrons
• Backscattered Electrons
• Sample Preparation
• Gold Coating
• Microstructure

文献与作品 Literary Works

• Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis（经典 SEM 与 X 射线显微分析教材/参考书）
• Principles and Techniques of Scanning Electron Microscopy（关于 SEM 原理与技术的专著）
• Materials Characterization: Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods（材料表征教材中常系统介绍 SEM）
• ASM Handbook, Volume 10: Materials Characterization（ASM 手册材料表征卷，SEM 为常见条目与方法）