Lower control limit(下控制限,常缩写为 LCL):统计过程控制(SPC)中控制图上的下界限。在过程仅受“常见原因波动”(随机波动)影响时,统计量(如样本均值、极差、单个值等)通常应落在上下控制限之间;点落到 LCL 以下常提示过程可能出现了特殊原因,需要调查。
/ˈloʊər kənˈtroʊl ˈlɪmɪt/
The point fell below the lower control limit.
这个点落在下控制限以下。
If the X̄ chart shows repeated values near the lower control limit after the material change, it may indicate a process shift rather than random variation.
如果在更换原材料后,均值控制图上反复出现靠近下控制限的数值,这可能表明过程发生了偏移,而非随机波动。
该短语由三部分组成:lower(更低的)+ control(控制)+ limit(界限)。它来源于20世纪早期工业统计与质量管理的发展,尤其与控制图方法相关(常与休哈特控制图的思想一同出现)。在SPC语境中,“control limit”指基于统计原理计算出的界限(区别于规格限 specification limits),而“lower”说明是下方那条界限。