Low-Pressure CVD 是 低压化学气相沉积(低压CVD,常写作 LPCVD)的说法之一:在低于大气压的反应腔体中,引入气态前驱体,让其在加热的基片表面发生化学反应并沉积薄膜。常用于制备多晶硅、氮化硅、氧化硅等薄膜,特点通常包括膜层致密、均匀性好、覆盖性较佳(但温度往往较高)。
/ˌloʊ ˈprɛʃər ˌsiː viː ˈdiː/
Low-pressure CVD is used to deposit silicon nitride films.
低压化学气相沉积常用于沉积氮化硅薄膜。
Compared with PECVD, low-pressure CVD typically produces denser films but often requires higher process temperatures, which can limit compatibility with temperature-sensitive layers.
与PECVD相比,低压CVD通常能得到更致密的薄膜,但往往需要更高的工艺温度,这可能限制它与耐温性较差的层的兼容性。
该术语由 low-pressure(低压) + CVD(Chemical Vapor Deposition,化学气相沉积)构成。CVD是以气相反应在表面生成固体薄膜的沉积方法;加上“low-pressure”强调其关键工艺条件:在较低压强下运行,以影响反应动力学、传质与薄膜均匀性。工程语境中也常直接写作 LPCVD。