Latch-up

释义 Definition

Latch-up（闩锁效应）：电子与集成电路（尤其是 CMOS）中的一种故障现象——芯片内部寄生结构被意外触发后形成低阻导通通路，导致电源与地之间出现异常大电流，可能引起功能失常、过热甚至损坏。该词在一般英语中也可作动词短语表示“（使）锁住/卡住”，但最常见的技术义如上。

发音 Pronunciation

/ˈlætʃ ˌʌp/

例句 Examples

A sudden voltage spike can cause latch-up in a CMOS chip.
突然的电压尖峰可能会在 CMOS 芯片中引发闩锁效应。

If the input pin is driven above the supply rail, the device may enter latch-up and draw excessive current until power is cycled.
如果输入引脚被驱动到高于电源电压，器件可能进入闩锁效应并持续吸取过大电流，直到断电重启为止。

词源 Etymology

latch 原意是“门闩、搭扣、锁扣”，引申为“扣住、卡住”；加上 up（“向上/完成/固定住”）后形成 latch-up，在电子工程语境中用来形象描述电路被“闩住”在某种导通状态、难以自行恢复的现象。该术语随着集成电路与 CMOS 工艺的发展而普及。

相关词 Related Words

• Breakdown
• CMOS
• Current
• ESD
• Overvoltage
• Parasitic
• Protection
• Short-circuit
• Thyristor
• Trigger

文献与作品 Literary / Works

• The Art of Electronics（Horowitz & Hill）——在讨论 CMOS 输入保护与异常电流时会涉及 latch-up。
• CMOS VLSI Design: A Circuits and Systems Perspective（Weste & Harris）——在 CMOS 版图、寄生结构与可靠性章节中讨论 latch-up。
• Microelectronic Circuits（Sedra & Smith）——在器件/集成电路可靠性与保护相关内容中提及 latch-up。