原子力显微镜（AFM）：一种扫描探针显微技术，通过让极细小的探针在样品表面上方扫描，测量探针与表面之间的微弱相互作用力（如范德华力、静电力等），从而获得纳米尺度的表面形貌、粗糙度以及部分物理性质信息。常用于材料科学、纳米技术与生物样品成像。（该领域还有其他模式与扩展用途。）
/əˈtɑːmɪk fɔːrs maɪˈkrɑːskəpi/
Atomic force microscopy can show tiny bumps on a surface.
原子力显微镜可以显示表面上极微小的凸起。
Using atomic force microscopy in tapping mode, the team mapped the polymer film’s nanostructure and compared it with the sample’s mechanical stiffness.
研究团队使用轻敲模式的原子力显微镜绘制了聚合物薄膜的纳米结构，并将其与样品的机械刚度进行对比。
该术语由三部分构成：atomic（原子级/极微小尺度）+ force（力）+ microscopy（显微技术）。其核心含义是“利用（原子尺度相关的）相互作用力来进行显微成像”。原子力显微镜作为扫描探针显微镜家族的重要成员，在20世纪80年代随纳米科学发展而普及。
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